用于纳米级精度的绝对距离测量的白光干涉仪
商品编号: IMS5400-DS 应用 智能工厂机械和设备工程金属工业半导体工业
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IMS5400-DS白光干涉仪用于纳米级精度的绝对距离测量。与传统的干涉仪不同,IMS5400-DS还能稳定测量阶梯轮廓。该控制器具有智能评估功能,能够在相对较大的基底距离上实现纳米级精度的绝对测量。与其他绝对测量光学系统相比,IMS5400-DS在精度、测量范围和基准距离方面具有无可比拟的优势。通过对透明物体的多峰距离测量,可以同时评估多达14个距离值。例如,这可以确定玻璃和载板之间的距离。此外,控制器可以根据距离值计算出玻璃厚度。
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
Königbacher Straße 15
94496 Ortenburg
德国
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德国
+49 8542 168 0
+49 8542 168 90
用于纳米级精度的绝对距离测量的白光干涉仪 的属性
可能与公司信息不同
基本数据
分辨率 5,000,000,000 nm
测量方法 位移/位置 距离
光色/光源类型 白光
产品的环境因素(防护等级/温度)
工作温度范围 5 到 50 °C
信号输入/信号输出,接口
接口 模拟控制、数字接口、计算机接口
准许证/证书/性能等级/完整性等级
准许证/证书/检验标志 CE, UKCA
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