用于亚纳米级精度的绝对距离测量的白光干涉仪
商品编号: IMS5600-DS 应用 智能工厂机械和设备工程金属工业半导体工业
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IMS5600-DS白光干涉仪可用于高精度的位移和距离测量。该系统提供绝对测量值,因此也可用于台阶轮廓的距离测量。由于绝对测量,阶梯的扫描是以高信号稳定性进行的。在测量移动物体时,肩部、台阶和凹槽的高度差可以被可靠地检测出来。该测量系统提供了亚纳米级的分辨率,同时相对于测量范围有较大的基础距离。通过对透明物体进行多峰距离测量,可同时评估多达14个距离值。例如,这允许确定玻璃和载板之间的距离。此外,控制器可以根据距离值计算出玻璃厚度。
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
Königbacher Straße 15
94496 Ortenburg
德国
94496 Ortenburg
德国
+49 8542 168 0
+49 8542 168 90
用于亚纳米级精度的绝对距离测量的白光干涉仪 的属性
可能与公司信息不同
基本数据
分辨率 5,000,000,000 nm
测量方法 位移/位置 距离
光色/光源类型 白光
产品的环境因素(防护等级/温度)
工作温度范围 5 到 50 °C
信号输入/信号输出,接口
接口 模拟控制、数字接口、计算机接口
准许证/证书/性能等级/完整性等级
准许证/证书/检验标志 CE, UKCA
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